Guia docent Escola Tècnica Superior d`Enginyeria Química |
català |
Nanociència i Nanotecnologia (2006) |
Assignatures |
EINES AVANÇADES DE MICROSCOPIA ELECTRÒNICA |
Continguts |
DADES IDENTIFICATIVES | 2007_08 |
Assignatura | EINES AVANÇADES DE MICROSCOPIA ELECTRÒNICA | Codi | 205151211 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
2.5 | Optativa | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Tema | Subtema |
Tema 1. Instrumentació per Microscòpia Electrònica | Avenços instrumentals: filaments d’emissió de camp, correctors d’aberració, espectròmetres i monocromadors, filtres d’energia. Mètodes avançats de preparació de mostres: Preparació de mostres biològiques, FIB. |
Tema 2. Microscòpia Electrònica d’Escombrat | Crio-microscòpia. catodoluminiscència (CL), currents induïdes (EBIC), Anàlisi de patrons d’electrons retrodisperstats (EBSP). Microscòpia electrònica ambiental (ESEM). Modes avançats d’observació: Tomografia SEM Microscòpia de rastreig d’alta resolució FEG-SEM |
Tema 3. Microscòpia Electrònica de Transmissió | Difracció d’un cristall. Indexació de diagrames de difracció. Doble difracció. Patrons de Kikuchi. Formació e interpretació d’imatges amb contrast de difracció. Difracció per feix convergent (CBED, LACBED) Precessió del feix i cristal•lografia electrònica. Nanodifracció. Contrast de fase. Principis de formació de les imatges d’alta resolució (HRTEM). Funció de transferència de contrast. Resolució sub-Ångstrom. Mètodes de simulació d’imatges. Reconstrucció d’amplitud i fase de l’ona emergent. Tractament digital de les imatges d’alta resolució. |
Tema 4. Microscòpia electrònica analítica (AEM) | Espectroscòpia de Raig-X. Detectors per dispersió d’energia (EDS) i longitud d’ona (WDS). Anàlisi quantitatiu de raig-X (XEDS). Espectroscòpia de pèrdua d’energia dels electrons (EELS). Estructura fina del front de absorció (ELNES, EXELFS). Formació d’imatges filtrades en energia (EFTEM). Aplicació a materials nanoestructurats. |
Tema 5. Modes avançats d’observació i anàlisi | Tomografia electrònica: Formació d’imatge i mètodes de reconstrucció 3D. Crio-tomografia. Aplicacions en ciència de materials i ciències de la vida. Mode escombrat-transmissió (STEM) i microscòpia en camp fosc amb detector anular d’angle ample (HAADF – Z-Contrast). Microscòpia analítica amb resolució atòmica. Aplicacions a materials nanoestructurats. Altres microscòpies: Holografia electrònica. Microscòpia Lorentz, microscòpia de reflexió d’electrons,... |