| Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
| Enginyeria Electrònica (2010) |
 Assignatures |
| CARACTERITZACIÓ DE CRISTALLS, NANOCRISTALLS I MATERIALS NANOESTRUCTURATS PER MÈTODES DE DIFRACCIÓ XR |
| Objectius d'aprenentatge |
| DADES IDENTIFICATIVES | 2011_12 |
| Assignatura | CARACTERITZACIÓ DE CRISTALLS, NANOCRISTALLS I MATERIALS NANOESTRUCTURATS PER MÈTODES DE DIFRACCIÓ XR | Codi | 17605221 | |||||
| Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
| 3 | Optativa | Únic anual |
||||||
| Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
| Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
| Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
| Objectius | Competències | ||
| Conèixer la relació entre l’estructura cristal.lina i la simetria amb les propietats físiques dels materials. Conèixer les principals aplicacions de les tècniques de difracció de Raigs X. Aplicar la difracció de raigs-X als cristals, i els materials nanoestructurats. Conèixer com l’estructura cristal.lina influeix en les propietats dels cristals, i els materials nanoestructurats. | AR1 AP2 |
BC2 |
|
