Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
Enginyeria Electrònica (2010) |
Assignatures |
CARACTERITZACIÓ DE CRISTALLS, NANOCRISTALLS I MATERIALS NANOESTRUCTURATS PER MÈTODES DE DIFRACCIÓ XR |
Planificació |
DADES IDENTIFICATIVES | 2011_12 |
Assignatura | CARACTERITZACIÓ DE CRISTALLS, NANOCRISTALLS I MATERIALS NANOESTRUCTURATS PER MÈTODES DE DIFRACCIÓ XR | Codi | 17605221 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
3 | Optativa | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Metodologies :: Proves | |||||||||
Competències | (*) Hores a classe | Hores fora de classe | (**) Hores totals | ||||||
Activitats Introductòries |
|
1 | 0 | 1 | |||||
Sessió Magistral |
|
30 | 0 | 30 | |||||
Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
|
35 | 0 | 35 | |||||
Atenció personalitzada |
|
2 | 0 | 2 | |||||
Proves pràctiques |
|
2 | 6 | 8 | |||||
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor. (**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat |