Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
Enginyeria i Tecnologia dels Sistemes Electrònics (2014) |
Assignatures |
DISPOSITIUS I TECNOLOGIES MICROELECTRÒNICS I NANOELECTRÒNICS |
Avaluació |
DADES IDENTIFICATIVES | 2016_17 |
Assignatura | DISPOSITIUS I TECNOLOGIES MICROELECTRÒNICS I NANOELECTRÒNICS | Codi | 17675102 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
4 | Obligatòria | Primer | 1Q |
Competències | Resultats d'aprenentage | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Metodologies | Competències | Descripció | Pes | |||||
Presentacions / exposicions |
|
Els estudiants realitzaran una presentació oral dels treballs realitzats durant el curs davant dels seus companys. S’avaluarà l’ordre, la claredat, la correcció i les capacitats de l’estudiant de comunicar els resultats obtinguts. | 20 % | |||||
Treballs |
|
Els estudiants hauran d’elaborar memòries escrites sobre els treballs que realitzaran durant el curs. Les memòries hauran de contenir una introducció al treball realitzat amb els fonaments teòrics necessaris, una descripció dels objectius del treball, un informe dels resultats obtinguts i unes conclusions. S’avaluarà l’ordre, la claredat, la correcció i la capacitat de produir un text adequat a les necessitats comunicatives. | 35 % | |||||
Proves objectives de preguntes curtes |
|
Es durà a terme una prova/examen consistent en la resolució de qüestions curtes que impliquin la demostració de les competències adquirides per l’estudiant relacionades amb l’assignatura. | 45 % | |||||
Altres |
Altres comentaris i segona convocatòria | |||
OBSERVACIONS: Durant les proves tipus test, els alumnes no podran disposar ni utilitzar cap dispositiu de comunicació ni amb capacitat de transmissió de dades. En cas de no superar l'avaluació continua, els alumnes disposaran d'una segona convocatòria que consistirà en un examen de preguntes curtes. |