| Educational guide Escola Tècnica Superior d`Enginyeria Química |
english |
| Nanociència i Nanotecnologia (2006) |
 Subjects |
| EINES AVANÇADES DE MICROSCOPIA ELECTRÒNICA |
| Methodologies |
| IDENTIFYING DATA | 2007_08 |
| Subject | EINES AVANÇADES DE MICROSCOPIA ELECTRÒNICA | Code | 205151211 | |||||
| Study programme |
|
Cycle | 2nd | |||||
| Descriptors | Credits | Type | Year | Period | ||||
| 2.5 | Optativa | Only annual |
||||||
| Competences | Learning aims | Contents |
| Planning | Methodologies | Personalized attention |
| Assessment | Sources of information | Recommendations |
| Description | |
| Introductory activities | |
| Lecture | |
| Laboratory practicals | Considerem la realització d’un total de 8 sessions de laboratori de 2.5 hores cada una, amb una distribució per grups dels alumnes. Aquestes sessions es durien a terme a les instal•lacions dels Serveis Científico-Tècnics de la Universitat de Barcelona. Dues d’elles serien dedicades a la introducció als instruments. Les 6 restants es complementarien amb exercicis derivats de l’execució pràctica i es resoldrien individualment o en grup, fent posteriorment una posada en comú dels resultats. Una distribució orientativa dels continguts d’aquestes pràctiques podria ser: 1. Preparació de mostres per SEM i TEM. 2. Introducció al SEM: modes d’operació i microanàlisi qualitatiu. 3. Combinació SEM-FIB per preparació i observació. 4. Introducció al TEM: alineament i correccions d’aberracions 5. Difracció i nanodifracció. Indexació de patrons de difracció 6. Microscòpia d’alta resolució. Simulació. Identificació de fases en nanopartícules. 7. Microanàlisi quantitatiu en SEM - EDX. Tractament de l’espectre. Correccions ZAF. 8. Espectroscòpia de pèrdua d’energia (EELS - TEM). |
