|
Tipus A
|
Codi |
Competències Específiques |
| |
Recerca |
|
Tipus B
|
Codi |
Competències Transversals |
| |
Recerca |
|
Tipus C
|
Codi |
Competències Nuclears |
| |
Recerca |
| Objectius |
Competències |
| El present curs té per objectiu proporcionar una descripció de les microscopies de proximitat (microscopia de forces atòmiques, microscopia túnel i microsocopia òptica de camp proper) i la seva utilització en la caracterització i manipulació de superfícies a la nanoescala. |
|
|
|
| Tema |
Subtema |
| I. INTRODUCCIÓ A LES MICROSCOPIES DE PROXIMITAT |
Limitacions de la microscopia òptica. Desenvolupament històric de les microscopies de proximitat. Tipus de microscopies de proximitat. Condicions ambientals pel treball amb microscopies de proximitat. Introducció als piezoelèctrics. Escaneig. Realimentació. |
| II. MICROSCOPIA D'EFECTE TÚNEL (STM) |
Efecte túnel. El Microscopi d'Efecte Túnel. Modes d'obtenció d'imatges: corrent constant i alçada constant. Interpretació de les imatges de STM. Límits de resolució i artefactes. Modes de caracterització espectroscòpics: espectroscòpia corrent-tensió. |
| II. MICROSCOPIA DE FORCES ATÒMIQUES (AFM) |
Forces atòmiques. El Microscopi de Forces Atòmiques. Principals modes d'obtenció d'imatges: contacte, dinàmic, no-contacte. Interpretació de les imatges d'AFM: imtages topogràfiques, de deflexió, de fricció, de fase, etc. Límits de resolució i artefactes. Modes de caracterització amb AFM: forces electrostàtiques i magnètiques, potencial de superfície, conductivitat elèctrica, capacitat elèctrica, etc. Principals modes de caracterització espectroscòpics: espectroscòpia de forces, espectroscòpia corrent-tensió. |
| III. MICROSCOPIA ÓPTICA DE CAMP PROPER (SNOM) |
Òptica de camp proper. El Microscopi Òptic de Camp Proper. Interpretació de les imatges de SNOM. Límits de resolució i artefactes. |
| IV. NANOMANIPULACIÓ |
Nanoposicionament i nanomanipulació. Nanomanipulació d'àtoms mitjançant STM. Nanomanipulació de nanopartícules mitjançant AFM. Interfície humana per a la nanomanipulació: l'haptic. Estacions de nanomanipulació. Entorns virtuals per a la nanomanipulació. |
| Metodologies :: Proves |
| |
Competències |
(*) Hores a classe |
Hores fora de classe |
(**) Hores totals |
| Activitats Introductòries |
|
0 |
0 |
0 |
| |
| |
| Atenció personalitzada |
|
0 |
0 |
0 |
| |
| |
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat |
Metodologies
| |
Descripció |
| Activitats Introductòries |
|
| |
Descripció |
Pes |
| |
|
Altres comentaris i segona convocatòria |
|
|
| Bàsica |
Dawn A. Bonnel (ed.), Scanning probe microscopy and spectroscopy: theory, techniques, and applications, Wiley-VCH, 2001
Chen, C. Julian, Introduction to scanning tunnelling microscopy, Oxford University Press, 1993
K. S. Birdi, Scanning Probe Microscopes: Applications in Science and Technology, CRC Press, 2003
, http://www.control.hut.fi/Research/nanorobotics/index.html, ,
S. Fatikow and U. Rembold, Microsystem Technology and Microrobotics, Springer-Verlag, 1997
, http://www.thorlabs.com/, ,
, http://www.physikinstrumente.com/, ,
H.Z. Tan, L. Walker, R. Reifenberger, S. Mahadoo, G. Chiu, A. Raman, A. Helser, P. Colilla, A Haptic Interface for Human-in-the-Loop Manipulation at the Nanoscale, Proc of the IEEE 1st Eurohaptics Conf. 2005, , 2005
M. Sitti, Micro- and Nano-Scale Robotics, Proc. Of the American Control Conf. 2004, , 2004
T. Sievers, S. Fatikow, Visual Servoing of a Mobile Microrobot inside a Scanning Electron Microscope, IEEE Conf. on Intelligent Robots and Systems, IROS 2005, 1682-1686, IROS, 2005
|
|
| Complementària |
|
|
|