Tipus A
|
Codi |
Competències Específiques |
|
Recerca |
|
AR27 |
Conèixer l'estat actual de la tècnica, les capacitats, limitacions i aplicacions de les tècniques actuals emprades en a la caracterització de nanoestructures. |
|
AR28 |
Identificar les tècniques de caracterització que es poden utilitzar per a resoldre un problema específic. |
|
AR29 |
Interpretar la informació obtinguda de les tècniques de caracterització. |
|
AR30 |
Capacitat d'usar SEM, TEM, AFM i microscopi confocal, des d'un punt de vista pràctic. |
Tipus B
|
Codi |
Competències Transversals |
|
Recerca |
|
BR2 |
Treballar de manera autònoma amb iniciativa. |
|
BR8 |
Capacitat d'apendre |
|
BR10 |
Habilitats crítiques: anàlisi i sintesi. |
Tipus C
|
Codi |
Competències Nuclears |
|
Comú |
|
CC3 |
Comunicar-se de manera efectiva en la pràctica professional i com a ciutadà. |
Objectius |
Competències |
State-of-the-art,capabilities, limitations and applications of the current techniques used to characterise nanostructures. |
AR27
|
BR2 BR8 BR10
|
CC3
|
Identification of the characterisation techniques that can be used to solve a specific problem.
|
AR28
|
BR2 BR8 BR10
|
CC3
|
Interpretation of the information obtained from the characterisation techniques. |
AR29
|
BR2 BR8 BR10
|
CC3
|
Capability to use SEM, TEM, AFM and Confocal Microscope from a practical point of view. |
AR30
|
BR2 BR8 BR10
|
CC3
|
Tema |
Subtema |
1. Introduction. Optical microscopy. Confocal microscopy. Applications and future perspectives. |
|
2. Scanning probe microscopy (SPM) and spectroscopy. Principle of operation. Scanning Tunneling microscopy (STM). Basic principles. Surface structure determination by STM. Scanning Tunneling spectroscopies. STM-based atomic manipulations. Recent developments and applications. |
|
3. Atomic Force Microscope (AFM). Basic principles. Contact, Non-contact and Tapping AFM modes. Measuring local properties with AFM. Other scanning probe techniques. Applications to nanoscale materials. |
|
4. Electron microscopy. General aspects of electron optics. Electron beam generation. Electron beam interactions. Scanning Electron Microscopy (SEM). Environmental Scanning Eletron Microscopy (ESEM). Transmission Electron Microscopy (TEM). Applications. |
|
5. Electron Microscopy. Transmission Electron Microscopy (TEM). Applications. |
|
6. Diffraction techniques to determine crystal structures. X-Ray Diffraction (XRD) |
|
Metodologies :: Proves |
|
Competències |
(*) Hores a classe |
Hores fora de classe |
(**) Hores totals |
Activitats Introductòries |
|
1.5 |
1.5 |
3 |
|
Sessió Magistral |
|
15 |
15 |
30 |
Pràctiques a laboratoris |
|
10 |
0 |
10 |
Treballs |
|
0 |
14 |
14 |
Presentacions / exposicions |
|
1.5 |
5 |
6.5 |
|
Atenció personalitzada |
|
2 |
0 |
2 |
|
Proves de desenvolupament |
|
2 |
0 |
2 |
|
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor. (**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat |
Metodologies
|
Descripció |
Activitats Introductòries |
One introductory lecture providing a classification of the characterisation techniques and their role in the frame of nanoscience and nanotechnology. Previously to the class, the students will read a couple of papers about the framework of characterisation techniques and after the introductory lecture the papers will be discussed in class. |
Sessió Magistral |
Lectures covering the basic principles, modes of operation, applications and fundamental limitations of the characterisation techniques. |
Pràctiques a laboratoris |
Practical sessions in the facilities of the "Servei de Recursos Científics" of the Rovira i Virgili University. |
Treballs |
Individual assignments and small presentations in class about a very specific subject that students have to individually prepare and present. |
Presentacions / exposicions |
The students will be divided in groups and each group will perform an oral exposition of one of the subjects given during the course. |
Atenció personalitzada |
|
|
Descripció |
Meeting with the students, either individually or in groups, in order to improve the students performance. |
|
|
Descripció |
Pes |
Treballs |
Individual assignments |
25 |
Presentacions / exposicions |
Oral exposition by groups |
25 |
Proves de desenvolupament |
Final individual exam |
25 |
Altres |
Individual active participation (questions, discussions, small presentations in class) during the classes and practical sessions |
25 |
|
Altres comentaris i segona convocatòria |
A minimum of 35% in each part is required in order to pass the subject. Assistance to lectures and to practical sessions is mandatory. |
Bàsica |
YAO, N., WANG Z.L., Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Kluver Academic Publishers, Last availabre edition
KELSALL, R., HAMLEY, I., GEOGHEGAN M., Nanoscale Science and Technology, Wiley, Last availabre edition
BIRDI, K.S., Scanning probe microscopes: applications in science and technology, CRC Press, Last availabre edition
GOLDSTEIN, J.I., Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis, Kluver Academic, Plenum Press, Last availabre edition
Paolo Samori, Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures, Weinheim: Wiley-VCH, Last available edition,
|
|
Complementària |
DI VENTRA, M., EVOY S., HEFLIN J.R., Introduction to Nanoscale Science and Nanotechnology, Kluver Academic Publishers, Last availabre edition
BHUSHAN, B, Springer Handbook of Nanotechnology, Springer, Last availabre edition
WILLIAMS, B., CARTER, C.B., Transmission electron microscopy. A text book for material science. Springer Handbook of Nanotechnology, Plenum Press, Last availabre edition
BRIGGS, D., SEAH, M.P., Practical surface analysis: By Auger and X-Ray photoelectron spectroscopy, Wiley, Last availabre edition
, Papers about recent trends in characterization techniques for nanostructures, ,
|
|
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent |
|