| Competències |
| Tipo A | Código | Competencias Específicas |
| A1.1 | Destacar en l'estudi i coneixement de l'àmbit de recerca triat: avaluar la importància cientificotècnica, el potencial tecnològic i la viabilitat de la nanociencia, dels materials, del seu disseny, la seva preparació, propietats, processos i desenvolupaments, tècniques i aplicacions. | |
| Tipo B | Código | Competencias Transversales |
| B4.1 | Aprendre de forma contínua. | |
| B4.2 | Aprendre de forma autònoma i amb iniciativa. | |
| B5.3 | Aplicar el pensament crític, lògic i creatiu en un context de recerca i innovació. | |
| Tipo C | Código | Competencias Nucleares |
| C1.1 | Dominar en un nivell intermedi una llengua estrangera, preferentment l’anglès. |
| Resultats d'aprenentage |
| Tipo A | Código | Resultados de aprendizaje |
| A1.1 |
Entén els paràmetres que influeixen en la morfologia de les partícules i material cristal • lí en l'etapa de formació. Identifica com influeix la simetria d'un material amb les propietats que pot tenir. Identifica la terminologia bàsica de la Cristal • lografia. Identifica la terminologia bàsica per a la descripció de les propietats físiques anisotrópicas. Identifica la terminologia de la simetria dels materials. Identifica els aspectes més bàsics de la difracció de RX. Reconeix la relació de les propietats físiques i la simetria estructura cristal • lina. | |
| Tipo B | Código | Resultados de aprendizaje |
| B4.1 |
Adopta autònomament les estratègies d'aprenentatge en cada situació. Estableix els seus propis objectius d'aprenentatge. | |
| B4.2 |
Formula preguntes adequades per a resoldre els dubtes o qüestions obertes, i té criteri en la recerca de la informació. Selecciona un procediment d 'entre els que li proposa el professor. | |
| B5.3 |
Segueix un mètode lògic per identificar les causes d'un problema. | |
| Tipo C | Código | Resultados de aprendizaje |
| C1.1 |
Expressa opinions sobre temes abstractes o culturals de forma limitada Explica i justifica breument les seves opinions i projectes Comprèn instruccions sobre classes o tasques assignades pels professors Comprèn informació i articles de caràcter rutinari Extreu el sentit general dels textos que contenen informació no rutinària dins d'un àmbit conegut Escriu cartes o prendre notes sobre assumptes previsibles i coneguts |
| Continguts |
| tema | Subtema |
| 1. - Simetria en els materials cristal · lins. |
Introducció a la Cristal · lografia. Terminologia bàsica. Símbols i termes. Grups puntuals de simetria cristal · lina. Grups espacials de simetria cristal · lina. |
| 2.-Anisotropia de les propietats físiques dels materials. | Propietats físiques com tensors. Terminologia bàsica. Principi de Newman. Compatibilitat entre simetria i propietat física. El valor d'una propietat en una direcció determinada. Principi de Curie: Influència d'un agent extern sobre el canvi de la simetria en un material. |
| 3.-Relació entre l'estructura cristal · lina i la morfologia dels cristalls. | Nucleació i creixement cristal · lí. Mida i forma dels cristalls / partícules en funció de les condicions de creixement. Principis de Curie i teorema de Wulff per la forma d'equilibri i de creixement. Tipologia de superfícies dels materials cristal · lins. |
| 4.- Caracterización de los materiales por difracción de rayos-X. | Técnica de difracción de material policristalino. Las intensidades de los rayos difractados: Factor de estructura y sus aplicaciones. Identificación de fases desconocidas. Medidas de los parámetros de celda cristalina. Afinamiento de estructuras cristalinas por Difracción de Rayos-X. Difracción de rayos-X con cámara de alta temperatura. Polimorfismo y transición de fase por variación de la temperatura. Dilatación de un material cristalino por difracción de rayos-X. Tensor de dilatación térmica de los materiales anisotrópicos. |
| 5.-Caracterizacion de la textura de los materiales. | Difracción de Rayos-X tridimensional. Esfera de Ewald. Goniómetro para análisis de la textura. Goniometro de Euler con geometría de Schulz. Caracterización de capas delgadas. Orientación de materiales cristalinos para su corte |
| Planificació |
| Metodologías :: Pruebas | ||||||||||
| Competencias | (*) Horas en clase |
Horas fuera de clase |
(**) Horas totales | |||||||
| Activitats Introductòries |
|
1 | 1 | 2 | ||||||
| Sessió Magistral |
|
19 | 16 | 35 | ||||||
| Seminaris |
|
4 | 18 | 22 | ||||||
| Pràctiques a laboratoris |
|
4 | 10 | 14 | ||||||
| Atenció personalitzada |
|
2 | 0 | 2 | ||||||
| (*) En el caso de docencia no presencial, serán las horas de trabajo con soporte virtual del profesor. (**) Los datos que aparecen en la tabla de planificación son de carácter orientativo, considerando la heterogeneidad de los alumnos | ||||||||||
| Metodologies |
| descripción | |
| Activitats Introductòries | Es desenvoluparan una sèrie de sessions introductòries al contingut de la matèria |
| Sessió Magistral | En sessions magistrals breus s'introduiran els conceptes bàsics de l'assignatura que es treballaran més a fons en els seminaris |
| Seminaris | Durant els seminaris es treballaran a fons els conceptes impartits en l'assignatura |
| Pràctiques a laboratoris | Durant les pràctiques de laboratori s'interpretaran resultats de caracterització reals relacionats amb els coneixements impartits en l'assignatura |
| Atenció personalitzada | Hi haurà atenció personalitzada als alumnes en les tutories, previa cita per e-mail. |
| Atenció personalitzada |
| descripción |
| S'atendràn les consultes en les hores d'atenció als alumnes. I a més es donarà cita prèvia per correu electrònic. |
| Avaluació |
| Metodologías | Competencias | descripción | Peso | ||||
| Sessió Magistral |
|
Mitjançant activitats escrites de curta durada s'avaluaran els continguts adquirits en cadascuna de les sessions formatives | 5 | ||||
| Seminaris |
|
En cadascun dels seminaris realitzats s'avaluaran els continguts impartits mitjançant activitats en l'última part dels mateixos, o mitjançant treballs que els alumnes hauran de completar un cop finalitzat el seminari |
65 | ||||
| Pràctiques a laboratoris |
|
Les pràctiques de laboratori s'avaluaran mitjançant treballs d'interpretació de les dades experimentals reals que failitarán durant les mateixes i que els alumnes hauran de completar quan les pràctiques hagin finalitzat. |
30 | ||||
| Otros | En acabar l'assignatura, els alumnes hauran de lliurar un breu resum sobre els conceptes adquirits durant la mateixa |
| Otros comentarios y segunda convocatoria | |||
| Fonts d'informació |
| Bàsica |
E. Hartmann, An introduction to Crystal Physics, Pu. International Union of Crystallography. Cardiff, 1984. ,
L.A. Shuvalov., Modern CrystallographyIV. Physical properties of crystals . , Springer Verlag, 1988, pp.1-46,
J.F. Nye., Physical properties of Crystals. Their representation by tensors and matrices., Oxford University Press, 1985, pp.3-48, pp.93-109. ,
B.D. Cullity., Elements of X-Ray Diffraction., Addison-Wesley Pu. Co., 1978. ,
A. Putnis., Introduction to the mineral Science., Cambridge University Press, 1992, pp.1-120. , |
||||||||
| Complementària | |||||||||
| Recomanacions |
| Asignaturas que continúan el temario | ||
|
||
| Asignaturas que se recomienda cursar simultáneamente | |||
|
|||
(*)La Guía docente es el documento donde se visualiza la propuesta académica de la URV. Este documento es público y no es modificable, excepto en casos excepcionales revisados por el órgano competente o debidamente revisado de acuerdo la normativa vigente.