| Continguts |
| tema | Subtema |
| Fonaments de semiconductors. Substrats microelectrònics |
Concepte de semiconductor. Cas del Silici Diagrames de bandes i estructura cristal·lina Portadors de Càrrega (generació/recombinació) Semiconductors intrínsecs i extrínsecs Corrents en un semiconductor. Eq de continuïtat Oblies |
| Processos Tecnològic bàsics en microelectrònica | Processos Energètics (Oxidació i dopat) Processos de deposició (PVD, CVD, Epitàxia) Fotolitografia |
| La unió PN | Distribució de càrregues. Camp elèctric i potencial d'unió Polarització Equació d'un díode. Díode Schottcky |
| Transistor bipolar d'unions | Funcionament bàsic. Model d'Eber-Moll Efectes de 2nd ordre (Camp elèctric induït a la base, Efecte Early, Ruptura de la unió) Topologies |
| Transistor MOSFET | Funcionament bàsic Diagrama de bandes Tensió Llindar Equacions de funcionament Topologia |
| MEM's | Concepte Exemples Tecnologies associades |
| Atenció personalitzada |
| descripción |
| Els alumnes podran resoldre els dubtes que els apareguin, tant en el seguiment de les classes magistrals com en la realització dels treballs proposats presentant-se dins l'horari de consultes, al despatx dels professors que es facin càrrec de l'assignatura. |
| Avaluació |
| Otros comentarios y segunda convocatoria |
|
L'avaluació consistirà en una prova de tot el temari amb un pes del 100%. Durant la realització de les proves els alumnes no podran fer servir cap dispositiu de comunicació i transmissió de dades. |
| Fonts d'informació |
| Bàsica |
Stephen A. Campbell, Fabrication Engineering at the Micro and Nanoscale, 3a Edició, Oxford University Press, 2008
K.F. Brennan, Introduction to semiconductor devices. For computing and telecommunications applications, , Cambridge University Press, 2005 |
||||||||
| Complementària | |||||||||
(*)La Guía docente es el documento donde se visualiza la propuesta académica de la URV. Este documento es público y no es modificable, excepto en casos excepcionales revisados por el órgano competente o debidamente revisado de acuerdo la normativa vigente. |
|||||||||