| Competències |
| Tipus A | Codi | Competències Específiques |
| CE1 | Conèixer i aplicar els aspectes principals de terminologia química, nomenclatura, termes, convenis i unitats. | |
| CE3 | Conèixer els principals elements i compostos orgànics i inorgànics, així com biomolècules, les seves propietats, les seves rutes sintètiques, la seva caracterització i la seva reactivitat. | |
| CE9 | Demostrar habilitats per identificar i resoldre problemes qualitatius i quantitatius amb un enfocament estratègic. | |
| CE12 | Demostrar habilitats per als càlculs numèrics i la interpretació de les dades experimentals, amb especial èmfasi en la precisió i l'exactitud. | |
| Tipus B | Codi | Competències Transversals |
| Tipus C | Codi | Competències Nuclears |
| Resultats d'aprenentage |
| Tipus A | Codi | Resultats d'aprenentatge |
| CE1 |
Conèixer els aspectes bàsics de la interacció dels Raigs-X amb la matèria cristal.lina, les lleis fonamentals i les aplicacions de la difracció dels R-X Conèixer els aspectes bàsics de la matèria cristal.lina. La periodicitat i els sistemes cristal.lins. La xarxa real i la xarxa recíproca. Nomenclatura corresponent a punts, direccions i plans Conèixer els aspectes bàsics de la simetria dels objectes finits. Els grups puntuals cristal.logràfics i la terminologia de Hermann-Mauguin de la IUCr (Unió Internacional de Cristal.lografia) Conèixer els aspectes bàsics de la simetria dels objectes finits i periòdics. Conèixer els aspectes bàsics dels grups espacials cristal.logràfics i la terminologia d'H-M de la IUCr Conèixer els principals mètodes de caracterització de materials cristal.lins mitjançant la difracció de R-X Conèixer la relació entre grup puntual i grup espacial d'un material cristal.lí. Saber aplicar la simetria puntual a la morfologia dels cristalls i saber extreure informació a partir de la mateixa Saber calcular valors geomètrics, distàncies i angles d'enllaç. Angles entre direccions, distàncies entre plans, en els diferents sistemes cristal.lins Saber obtenir el grup de simetria espacial a partir d'una distribució atòmica tridimensional ordenada. Saber obtenir les característiques de les posicions atòmiques en funció del grup espacial | |
| CE3 |
Conèixer els aspectes bàsics de la interacció dels Raigs-X amb la matèria cristal.lina, les lleis fonamentals i les aplicacions de la difracció dels R-X Conèixer els principals mètodes de caracterització de materials cristal.lins mitjançant la difracció de R-X Saber obtenir el grup de simetria espacial a partir d'una distribució atòmica tridimensional ordenada. Saber obtenir les característiques de les posicions atòmiques en funció del grup espacial | |
| CE9 |
Conèixer els aspectes bàsics de la interacció dels Raigs-X amb la matèria cristal.lina, les lleis fonamentals i les aplicacions de la difracció dels R-X Conèixer els principals mètodes de caracterització de materials cristal.lins mitjançant la difracció de R-X Conèixer la relació entre grup puntual i grup espacial d'un material cristal.lí. Saber aplicar la simetria puntual a la morfologia dels cristalls i saber extreure informació a partir de la mateixa Saber calcular valors geomètrics, distàncies i angles d'enllaç. Angles entre direccions, distàncies entre plans, en els diferents sistemes cristal.lins Saber obtenir el grup de simetria espacial a partir d'una distribució atòmica tridimensional ordenada. Saber obtenir les característiques de les posicions atòmiques en funció del grup espacial | |
| CE12 |
Conèixer els aspectes bàsics de la interacció dels Raigs-X amb la matèria cristal.lina, les lleis fonamentals i les aplicacions de la difracció dels R-X Conèixer els aspectes bàsics de la simetria dels objectes finits i periòdics. Conèixer els aspectes bàsics dels grups espacials cristal.logràfics i la terminologia d'H-M de la IUCr Conèixer els principals mètodes de caracterització de materials cristal.lins mitjançant la difracció de R-X Saber calcular valors geomètrics, distàncies i angles d'enllaç. Angles entre direccions, distàncies entre plans, en els diferents sistemes cristal.lins Saber obtenir el grup de simetria espacial a partir d'una distribució atòmica tridimensional ordenada. Saber obtenir les característiques de les posicions atòmiques en funció del grup espacial | |
| Tipus B | Codi | Resultats d'aprenentatge |
| Tipus C | Codi | Resultats d'aprenentatge |
| Continguts |
| Tema | Subtema |
| Tema 1. Matèria cristal·lina: Xarxa Real o directa. Xarxa recíproca. Els 7 Sistemes Cristal·lins. Terminologia IUCr (International Union of Crystallography).. | Periodicitat. Vectors de periodicitat. Cel·la unitat. Paràmetres. Sistemes Cristal·lins. Volum de la cel·la unitat. Xarxa real. Xarxa recíproca. Nus, direcció reticular, pla reticular, índexs de Miller. Càlculs geomètrics, distàncies, angles i espaiat d'una família de plans segons sistema. |
| Tema 2. Simetria d'objectes finits. Grups puntuals cristal·logràfics. Classificació segons Sistemes cristal·lins. Notació. | Simetria d'objectes finits. Grups puntuals cristal·logràfics. Simetria d'objectes finits. Simetria dels cristalls com objectes finits. Teorema de les operacions de simetria. Notació de Hermann-Mauguin de la IUCr. (Unió Internacional de Cristal·lografia). Projecció estereogràfica per a la representació de propietats físiques anisotròpiques. |
| Tema 3. Descripció d'una estructura cristal·lina. Simetria dels objectes periòdics infinits. Grups espacials cristal·logràfics. Notació de Hermann-Mauguin de la IUCr. |
Descripció d'una estructura cristal·lina. Simetria dels objectes periòdics infinits. Grups espacials cristal·logràfics. Notació de Hermann-Mauguin de la IUCr. Simetria de les xarxes cristal·lines. Xarxes de Bravais. Elements de simetria amb lliscament i operacions de simetria amb lliscament. |
| Tema 4. Difracció de Raigs-X. Interacció dels RX amb la materia cristal·lina. Lleis geométriques de la difracció elàstica. |
Difracció de Raigs-X. Interacció dels RX amb la materia cristal·lina. Lleis geomètriques de la difracció elàstica. Esfera de Ewald. Llei de Bragg. Intensitat de la radiació difractada i factor de estructura. Influència de la simetria del cristall sobre les intensitats de la radiació difractada. |
| Tema 5. Tècniques de caracterizació de sòlids cristal·lins per difracció de RX: |
Tècniques de caracterització de sòlids cristal·lins per difracció de RX: Descripció de les principals tècniques de DRX, de pols cristal·lina i de monocristall, amb aplicacions i exemples de cada una. |
| Planificació |
| Metodologies :: Proves | ||||||||||
| Competències | (*) Hores a classe |
Hores fora de classe |
(**) Hores totals | |||||||
| Activitats Introductòries |
|
0.25 | 0.0025 | 0.2525 | ||||||
| Sessió Magistral |
|
13.75 | 5 | 18.75 | ||||||
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
|
14 | 14 | 28 | ||||||
| Pràctiques a laboratoris |
|
4 | 2 | 6 | ||||||
| Pràctiques a través de TIC en aules informàtiques |
|
4 | 4 | 8 | ||||||
| Atenció personalitzada |
|
1 | 1 | 2 | ||||||
| Proves mixtes |
|
3 | 3 | 6 | ||||||
| Proves mixtes |
|
3 | 3 | 6 | ||||||
| (*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor. (**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat | ||||||||||
| Metodologies |
| Descripció | |
| Activitats Introductòries | Presentació de l'assignatura, dels continguts, els objectius i de l'avaluació corresponent. |
| Sessió Magistral | Explicació dels continguts |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària | Resolució a l'aula de problemes i exercicis prèviament presentats a l'alumne. Plantejament del problema al grup i resolució individualitzada amb la supervisió del professor. |
| Pràctiques a laboratoris | Material cristal·lí. Observació de la morfologia cristal·lina. Obtenció dels elements de simetria puntual del cristall. Caracterització de la fase cristal·lina per difracció de pols. Visita als equips de difracció R-X. |
| Pràctiques a través de TIC en aules informàtiques | Càlculs geomètrics de l'estructura cristal·lina amb el programa adequat en els ordinadors de l'aula. Caracterització de diferents fases cristal·lines a partir de la difracció de pols obtinguda amb els equips de DRX. |
| Atenció personalitzada | Hores de tutoria individualitzada per resoldre dubtes que tingui l'alumne en l'execució dels exercicis i problemes, en les pràctiques de l'assignatura i en relació als conceptes impartits en les classes magistrals de l'assignatura. |
| Atenció personalitzada |
| Descripció |
|
Temps que cada professor té reservat per atendre i resoldre dubtes als alumnes. |
| Avaluació |
| Metodologies | Competències | Descripció | Pes | ||||
| Proves mixtes |
|
Prova1: S'avaluaran tots els continguts impartits en les classes de teoria, problemes-seminaris i els continguts impartits a les pràctiques | 45% | ||||
| Proves mixtes |
|
Prova2: S'avaluaran tots els continguts impartits en les classes de teoria, problemes-seminaris i els continguts impartits a les pràctiques | 55% | ||||
| Altres |
| Altres comentaris i segona convocatòria | |||
|
En la primera convocatòria hi ha 2 proves de l'assignatura. En la segona convocatòria hi ha una prova, única i global, de l'assignatura, que serà el 100% de la nota final. S'evaluaran tots els continguts impartits en les classes de teoria, problemes-seminaris i també en las classes de pràctiques. En l'espai Moodle de cada assignatura hi podreu consultar la informació actualitzada. Durant les proves d'avaluació, els telèfons mòbils, tablets i altres aparells que no siguin expressament autoritzats per la prova, han d'estar apagats i fora de la vista. |
|||
| Fonts d'informació |
| Bàsica |
M. Aguiló, Cristal·lografia., Material Moodle, Tarragona,1981-2010
M. Aguiló, Cristal·lografia. Problemes i Practiques, Material Moodle, Tarragona,1981-2010
X. Solans, Introducció a la Cristal·lografia, Ed UB. Textos Docentes 158.UB, Barcelona, 1999
S. Galí, Cristal·lografia.Teoria Reticular, grups puntuals i Grups espacials, PPU, UB, Barcelona, 1988
Hammond, C. , The basics of crystallography and diffraction, IUCr Texts on Crystallography, IUcr- Oxford Science Pu., 1997 |
||||||||
| Complementària |
, , ,
Ed by Theo Hahn, International tables for Crystallography, Fourth Revised Edition, The international Union of Crystallography |
||||||||
| Recomanacions |
| Altres comentaris | |
| AQUESTA ASSIGNATURA ÉS UN PREREQUISIT D’ALTRES: és necessari aprovar-la per a poder matricular 13204119/Ciència de Materials |
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent