|
Tipus A
|
Codi |
Competències Específiques |
|
Tipus B
|
Codi |
Competències Transversals |
|
Tipus C
|
Codi |
Competències Nuclears |
|
Tipus A
|
Codi |
Resultats d'aprenentatge |
|
Tipus B
|
Codi |
Resultats d'aprenentatge |
|
Tipus C
|
Codi |
Resultats d'aprenentatge |
| Tema |
Subtema |
| 0. Components passius: Resistències, condensadors i bobines |
Tipus i característiques de les resistències
Tipus i característiques dels condensadors
Caracterítiques de les bobines |
| 1. Semiconductors |
Model de bandes/model enllaços
Portadors de càrrega (Generació-recombinació)
Semiconductors intrínsec i extrínsecs
Corrents en un semiconductor: Arrossegament i difusió
|
| 2. Díodes |
Distribució de càrregues, camp elèctric i potencial a una unió PN
Característica V-I. Polarització del díode.
Ruptura de la Unió: Díode Zener
Models circuitals (Resistències de pèrdues, capacitats paràsites)
Circuits amb díodes
|
| 3. Transistors BJT i MOS |
Principis de funcionament i tipus de BJT
Corbes característiques. Regions de funcionament
Principis de funcionament i tipus de MOSFET
Corbes característiques. Regions de funcionament
Model Ebers-Möll pel BJT
Equacions pel MOSFET
|
| 4. Els transistors en commutació |
Interruptor BJT vs MOS
Introducció a les portes lògiques
Inversor CMOS
Característiques/limitacions Portes CMOS
Introducció als dispositius lògics programables
|
| 5. Els transistors com Amplificadors |
Polarització
Circuit en petit senyal
Impedància d'entrada/sortida. Guany de tensió i corrent
Marges dinàmics
Resposta freqüencial
|
| Metodologies :: Proves |
| |
Competències |
(*) Hores a classe
|
Hores fora de classe
|
(**) Hores totals |
| Activitats Introductòries |
|
1 |
0 |
1 |
| Estudis previs |
|
0 |
13 |
13 |
| Pràctiques a laboratoris |
|
13 |
4 |
17 |
| Sessió Magistral |
|
28 |
28 |
56 |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
|
10 |
20 |
30 |
| Atenció personalitzada |
|
1 |
0 |
1 |
| |
| Proves pràctiques |
|
1 |
0 |
1 |
| Proves objectives de tipus test |
|
4 |
0 |
4 |
| Proves de desenvolupament |
|
2 |
0 |
2 |
| |
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat |
Metodologies
| |
Descripció |
| Activitats Introductòries |
Es repasaran les metodologies a emprar en l'assignatura, els continguts, els mètodes d'avaluació i la bibliografia de referència. |
| Estudis previs |
Els alumnes hauran de respondres a una sèrie de qüestions teòriques sobre els contiguts de les pràctiques a realitzar al laboratori. Els alumnes hauran de presentar via Moodle un informe responent raonadament les qüestions. |
| Pràctiques a laboratoris |
Els alumnes hauran de muntar/simular els cicuits electrònics que es demanaran, tot realitzant una sèrie de mesures per a comprovar-ne el funcionament, contrastant els resultats amb els obtinguts als estudis previs. Els alumnes hauran de entregar via Moodle un informe on es recullin les mesures realitzades i les conclusions derivades. |
| Sessió Magistral |
S'expossaran els continguts teòrics de l'assignatura, així com exemples representatius. |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
La resolució de problemes a classe es desenvoluparan seguin dos metodologies diferenciades. En uns casos es comentaran els qüestionaris realitzats prèviament pels alumnes.
En l'altre cas, els alumnes hauran de realitzar a classe un conjunt de problemes proposats la setmana anterior. ·Els alumnes treballaran a casa aquesta problemes en grups de 4 persones. A classe s'assignara a cada persona del grup un dels problemes proposats. S'ecollirà a l'atzar un dels membres dels grup, al que se li corregirà el problema i la seva qualificació s'aplicarà a tots els membres del grup. |
| Atenció personalitzada |
Els alumnes podran resoldre els dubtes que els hi apareguin de forma individual en el despatx del professor corresponent. |
|
Descripció |
|
Els alumnes podran resoldre els dubtes que els apareguin, tant en el seguiment de les classes magistrals com en la resolució dels problemes o estudis previs presentant-se dins l'horari de consultes, al despatx dels professors que es facin càrrec de l'assignatura. |
|
Metodologies |
Competències
|
Descripció |
Pes |
|
|
|
|
| Estudis previs |
|
Els alumnes hauran de preparar i realitzar un total de 4 estudis previs que s'entregaran via Moodle. Els enunciats amb les preguntes a contestar també es popdran descaregar via Moodle. |
10 % |
| Pràctiques a laboratoris |
|
Els alumnes hauran de muntar o simular al laboratori un conjunt de circuits, tot comprovant el seu funcionament i realitzant les mesures que es demanaran en un document que es podrà descarregar via Moodle. Un cop fetes les mesures demanades, els alumnes hauran de preparar un informe que recullin aquestes mesures i els comentaris pertinents, que hauran de presentar via Moodle. Es valorarà, tant la correcció de les mesures i comentaris, com la correcció en el llenguantge. |
10 % |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
|
Determinades setmanes es proposaran un conjunt de problemes que els alumnes hauran de treballar en grups de 4 persones. S'assignarà un problema a realitzar a classe a cada membre del grup. Es seleccionarà a l'atzar un dels membres del grup al que se li corregirà el problema realitzat i la qualificació s'aplicarà a tots els membres del grup. |
15 % |
| Proves de desenvolupament |
|
Al final del semestre es realitzarà una prova individual on s'avalurà la capacitat de l'alumne d'aplicar els coneixements desenvolupats en l'assignatura en l'anàlisi de circuits electrònics bàsics.
En aquest prova s'ha d'aconseguir una qualificació mínima de 3.5 sobre 10
|
30 % |
| Proves pràctiques |
|
Els alumnes hauran de muntar i realitzar de forma individual les mesures que es demanin sobre algun dels circuits treballats a les pràctiques. |
15 % |
| Proves objectives de tipus test |
|
Es realitzaran durant els curs un total de 3 proves tipust test a realitzar individualment pels alumnes a classe sobre esl conceptes desenvolupats a classe o treballats per l'alumne a casa. |
20 % |
| Altres |
|
|
|
| |
|
Altres comentaris i segona convocatòria |
|
OBSERVACIONS: Durant les proves tipus test, els alumnes no podran disposar ni utilitzar cap dispositiu de comunicació ni amb capacitat de transmissió de dades. En cas de no superar la'valuació continua, els alumnes disposaran d'una segona convocatòria que consistirà en un examen en tres parts: Una prova de desenvolupament on es demnarà l'análisi teòrica de diferents circuits (45 %) Un questionari tipus test sobre els conceptes bàsics revisats a l'assignatura (20 %) Una prova al laboratori per avaluar la capacitat de muntar un circuit i realitzar un conjunt de mesures (35 %) (Els alumnes que en la prova pràctica al laboratori hagin obtingut una nota mínima de 7 i una qualificació mínima de 4 en l'avaluació continuada de 1a convocatòria, si ho demanen, podran conservar la nota obtinguda en l'avaluació pràctica de laboratori) |
| Bàsica |
A.R. Hambley, Electrónica, 2a Edició, 2001
Malik, Norbert R. , Circuitos electrónicos : análisis, diseño y simulación , , 1996
Cabré, R., Manual d'electrònica bàsica i tecnologia electrònica, , 2004
Bragós Bardia, Ramon;Chávez Domínguez, Juan Antonio;Fernández Chimeno, Mireya;Jiménez Serres, Vicent, Circuits i dispositius electrònics : fonaments d'electrònica, 2ª Edició, 2002
|
|
| Complementària |
|
|
| Assignatures que en continuen el temari |
| ELECTRÒNICA ANALÒGICA/17204109 | | ELECTRÒNICA DIGITAL/17204108 |
|
| Assignatures que es recomana cursar simultàniament |
| TEORIA DE CIRCUITS II/17204106 |
|
| Assignatures que es recomana haver cursat prèviament |
| FÍSICA II/17204004 | | ESTADÍSTICA I MÈTODES TRANSFORMATS/17204009 | | TEORIA DE CIRCUITS I/17204105 |
|
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent |
|