DATOS IDENTIFICATIVOS 2018_19
Asignatura (*) DISPOSITIVOS Y TECNOLOGÍAS MICRO Y NANOELECTRÓNICOS Código 17675102
Titulación
Ingeniería y Tecnología de los Sistemas Electrónicos (2014)
Ciclo
Descriptores Cr.totales Tipo Curso Periodo
4 Obligatoria Primer 1Q
Lengua de impartición
Anglès
Departamento Ingeniería Electrónica, Eléctrica y Automática
Coordinador/a
IÑIGUEZ NICOLAU, BENJAMIN
Correo-e benjamin.iniguez@urv.cat
Profesores/as
IÑIGUEZ NICOLAU, BENJAMIN
Web
Descripción general e información relevante
Como consecuencia de la extinción del plan de estudios que estás cursando, esta asignatura se realiza a través de tutoría. Para más información debes consultar el horario de atención personalizada del profesor.

Contenidos
tema Subtema
Fundamentos de semiconductores.
Substratos microelectrónicos
Concepto de semiconductor. Caso del Silicio
Diagrames de bandas i estructura cristalina
Portadores de Carga (generación/recombinación)
Semiconductores intrínsecos i extrínsecos
Corrientes en un semiconductor. Eq de continuidad
Obleas
Procesos Tecnológicos básicos en microelectrónica Procesos Energéticos (Oxidación y dopado)
Procesos de deposición (PVD, CVD, Epitaxia)
Fotolitografía
La unió PN Distribución de cargas. Camp eléctrico y potencial de unión
Polarización
Ecuación de un diodo.
Diodo Schottcky
Transistor bipolar de uniones Funcionamiento básico. Modelo d'Eber-Moll
Efectos de 2nd orden (Camp eléctrico inducido en la base, Efecto Early, Ruptura de la unió)
Topologías
Transistor MOSFET Funcionament bàsic
Diagrama de bandes
Tensió Llindar
Equacions de funcionament
Topologia
MEM's Concepto
Ejemplos
Tecnologías asociadas

Atención personalizada
descripción
Los alumnos podrán resolver las dudas que aparezcan, tanto en el seguimiento de las clases magistrales como en la resolución de problemas o estudios previos, presentándose dentro del horario de consultas, en despacho de los profesores que impartan la asignatura.

Evaluación
 
Otros comentarios y segunda convocatoria

La evaluación consistirá en una prueba de todo el temario con un peso del 100%.

Durante la realización de las pruebas los alumnos no podrán utilizar ningún dispositivo de comunicación y transmisión de datos.


Fuentes de información
Básica Stephen A. Campbell, Fabrication Engineering at the Micro and Nanoscale, 3a Edició, Oxford University Press, 2008
K.F. Brennan, Introduction to semiconductor devices. For computing and telecommunications applications, , Cambridge University Press, 2005

Complementaria

(*)La Guía docente es el documento donde se visualiza la propuesta académica de la URV. Este documento es público y no es modificable, excepto en casos excepcionales revisados por el órgano competente o debidamente revisado de acuerdo la normativa vigente.