|
Tipus A
|
Codi |
Competències Específiques | | | A1.1 |
Destacar en l'estudi i coneixement de l'àmbit de recerca triat: avaluar la importància cientificotècnica, el potencial tecnològic i la viabilitat de la nanociencia, dels materials, del seu disseny, la seva preparació, propietats, processos i desenvolupaments, tècniques i aplicacions. |
| | A2.1 |
Presentar els resultats seguint el format de la bibliografia científica experimental, d'acord amb els estàndards comunament acceptats. |
| | A2.2 |
Avaluar críticament els resultats de recerca, pròpia o aliena, en el camp de la nanotecnologia, els materials i el disseny de producte i procés. |
|
Tipus B
|
Codi |
Competències Transversals | | | B3.1 |
Treballar en equip de forma col•laborativa, amb responsabilitat compartida en equips multidisciplinaris, multilingües i multiculturals. |
|
Tipus C
|
Codi |
Competències Nuclears | | | C1.1 |
Dominar en un nivell intermedi una llengua estrangera, preferentment l’anglès. |
| | C1.2 |
Utilitzar de manera avançada les tecnologies de la informació i la comunicació. |
|
Tipus A
|
Codi |
Resultats d'aprenentatge |
| | A1.1 |
Formula una àmplia comprensió del camp cientificotècnic, coneixent les capacitats, limitacions i aplicacions de les tècniques actuals utilitzades per caracteritzar nanoestructures.
| | | A2.1 |
Interpreta correctament la informació obtinguda a partir de les tècniques de caracterització.
Utilitza SEM / ESEM, TEM, AFM i microscopi confocal des d'un punt de vista pràctic.
| | | A2.2 |
Identifica quina tècnica o tècniques d'utilitzar per resoldre un problema concret de caracterització de nanoestructures.
Utilitza des d'un punt de vista pràctic ESEM / SEM, TEM, AFM i microscòpia confocal.
|
|
Tipus B
|
Codi |
Resultats d'aprenentatge |
| | B3.1 |
Accepta i compleix les normes del grup.
Col • labora activament en la planificació del treball en equip, en la distribució de les tasques i terminis requerits.
Facilita la gestió positiva de les diferències, desacords i conflictes que es produeixen a l'equip.
Porta a terme la seva aportació individual en el temps previst i amb els recursos disponibles.
Participa de forma activa i comparteix informació, coneixement i experiències.
Té en compte els punts de vista dels altres i retroalimenta de forma constructiva.
|
|
Tipus C
|
Codi |
Resultats d'aprenentatge |
| | C1.1 |
Expressa opinions sobre temes abstractes o culturals de forma limitada
Explica i justifica breument les seves opinions i projectes
Comprèn instruccions sobre classes o tasques assignades pels professors
Comprèn informació i articles de caràcter rutinari
Extreu el sentit general dels textos que contenen informació no rutinària dins d'un àmbit conegut
Escriu cartes o prendre notes sobre assumptes previsibles i coneguts
| | | C1.2 |
Coneix el maquinari bàsic dels ordinadors
Coneix el sistema operatiu com a gestor del maquinari i el programari com eina de treball
Utilitza programari per a comunicació off-line: editors de textos, fulles de càlcul i presentacions digitals
Utilitza programari per a comunicació on-line: eines interactives (web, moodle, blocs..), correu electrònic, fòrums, xat, vídeo-conferències, eines de treball col·laboratiu...
|
| Tema |
Subtema |
| 1. Introducció. Microscòpia òptica. Microscòpia confocal. Aplicacions i perspectives futures. |
|
| 2. Microscòpia de sonda d’escombrat (SPM). Principi de funcionament i diferents tècniques existents. Microscòpia d’efecte túnel (STM). Principis bàsics. Determinació de l'estructura superficial per STM. Espectroscòpies d’escombrat i d’efecte túnel. Manipulacions atòmiques amb STM. Desenvolupaments recents i aplicacions. |
|
| 3. Microscòpia de força atòmica (AFM). Principis bàsics. Modes de contacte i dinàmic. Mesura de propietats locals mitjançant AFM. Altres tècniques SPM. Aplicacions a materials en la nanoescala. |
|
| 4. Microscòpia electrònica. Aspectes generals. Generació del feix d’electrons. Interacció dels electrons amb la matèria. Microscòpia d’escaneig electrònic (SEM). Microscòpia d’escaneig electrònic ambiental (ESEM). Anàlisi de raigs X en SEM/ESEM. Aplicacions. |
|
| 5. Microscòpia de transmissió electrònica (TEM). Preparació de la mostra. Aplicacions. |
|
| 6. Tècniques de difracció per a determinar estructures cristal·lines. Difracció per raigs-X (XRD). |
|
| Metodologies :: Proves |
| |
Competències |
(*) Hores a classe
|
Hores fora de classe
|
(**) Hores totals |
| Activitats Introductòries |
|
1.5 |
2.5 |
4 |
| Sessió Magistral |
|
15 |
10 |
25 |
| Pràctiques a laboratoris |
|
10 |
6 |
16 |
| Treballs |
|
1 |
19 |
20 |
| Presentacions / exposicions |
|
1.5 |
6.5 |
8 |
| Atenció personalitzada |
|
1 |
0 |
1 |
| |
| Proves de desenvolupament |
|
1 |
0 |
1 |
| |
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat |
Metodologies
| |
Descripció |
| Activitats Introductòries |
Una sessió introductòria per tal de proporcionar una classificació de les tècniques de caracterització i el seu paper en el marc de la nanociència i la nanotecnologia. Prèviament a la classe, els estudiants llegiran un parell d'articles sobre el marc de les tècniques de caracterització i després de la sessió introductòria es discutiran els treballs a classe. |
| Sessió Magistral |
Sessions cobrint els principis bàsics, modes d’operació, aplicacions i limitacions fonamentals de les tècniques de caracterització. |
| Pràctiques a laboratoris |
Sessions pràctiques a les instal·lacions del "Servei de Recursos Científics" de la Universitat Rovira i Virgili. |
| Treballs |
Exercicis individuals i petites presentacions a classe sobre un tema molt específic que els estudiants han de treballar i presentar individualment. |
| Presentacions / exposicions |
Els estudiants es dividiran en grups i cada grup durà a terme una exposició oral sobre una de les sessions vistes durant el curs. |
| Atenció personalitzada |
Reunions amb els estudiants, ja sigui de forma individual o grupal, per tal de millorar el seu rendiment. |
|
Descripció |
|
Jordi Riu Rusell
Despatx 312, tercer pis Facultat de Química
Telèfon: 977558491
Correu electrònic: jordi.riu@urv.cat
|
|
Metodologies |
Competències
|
Descripció |
Pes |
|
|
|
|
| Treballs |
|
Exercicis individuals |
25 |
| Presentacions / exposicions |
|
Exposició oral per grups |
25 |
| Proves de desenvolupament |
|
Examen individual final |
40 |
| Altres |
|
Participació individual activa (preguntes, discussió a classe, petites presentacions) durant les classes i sessions pràctiques. |
10 |
| |
|
Altres comentaris i segona convocatòria |
|
Es requereix un mínim del 35% a cada part per aprovar l'assignatura. L'assistència a les lectures i a les sessions pràctiques és obligatòria. A la segona convocatòria l'estudiant només s'ha de presentar a aquelles parts no superades a la primera convocatòria. Els criteris d'avaluació són els mateixos que en la primera convocatòria. Durant les proves avaluatives, els telèfons mòbils, tablets, altres aparells alectrònics i altres fonts d'informació que no siguin expressament autoritzats per la prova, han d'estar apagats i fora de la vista. |
| Bàsica |
YAO, N., WANG Z.L., Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Last available edition, Kluver Academic Publishers
KELSALL, R., HAMLEY, I., GEOGHEGAN M., Nanoscale Science and Technology, Last available edition, Wiley
|
|
| Complementària |
DI VENTRA, M., EVOY S., HEFLIN J.R., Introduction to Nanoscale Science and Nanotechnology, Last available edition, Kluver Academic Publishers
BHUSHAN, B, Handbook of Nanotechnology, Last available edition, Springer
WILLIAMS, B., CARTER, C.B., Transmission electron microscopy. A text book for material science., Last available edition, Plenum Press
BRIGGS, D., SEAH, M.P., Practical surface analysis: By Auger and X-Ray photoelectron spectroscopy, Last available edition, Wiley
BIRDI, K.S., Scanning probe microscopes: applications in science and technology, Last available edition, CRC Press
GOLDSTEIN, J.I., Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis, Last available edition, Kluver Academic, Plenum Press
SAMORI, P., Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures, Last available edition, Weinheim: Wiley-VCH
|
|
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent |
|