DADES IDENTIFICATIVES 2007_08
Assignatura SENSORS I ACTUADORS Codi 175101108
Ensenyament
Enginyeria Electrònica (2006)
Cicle 2on
Descriptors Crèd. Tipus Curs Període
8 Obligatòria Primer Únic anual
Llengua d'impartició
Departament Eng. Electrònica, Elèctrica i Automàtica
Coordinador/a
LLOBET VALERO, EDUARD
Adreça electrònica
Professors/es
Web
Descripció general i informació rellevant

Competències
Tipus A Codi Competències Específiques
  Professionalitzador
  Recerca
  AR1 Conèixer els processos de disseny, fabricació i verificació de sistemes microelectrònics en general i sistemes MEMS o amb sensors en particular.
  AR2 Entendre les especificacions d'un sistema electrònic amb dispositius semiconductors, sensosr i/o MEMS.
Tipus B Codi Competències Transversals
  Comú
  BC1 Creativitat. Desenvolupar idees i projectes originals
  BC2 Treballar autònomament amb iniciativa
  BC12 Asertivitat. Comunicar de manera clara i sense ambigüitats tant a audiències expertes com no expertes
  BC14 Planificació i organització
Tipus C Codi Competències Nuclears
  Comú
  CC1 Domini de l’expressió i la comprensió del/s idioma/es estrangers per al desenvolupament professional derivat del curs del postgrau.
  CC2 Ús de les eines específiques de TIC per al desenvolupament professional derivat del curs de postgrau.
  CC4 Desenvolupament d’habilitats informacionals

Objectius d'aprenentatge
Objectius Competències
AR1
AR2
BC1
BC2
BC12
BC14
CC1
CC2
CC4

Continguts
Tema Subtema
1. Sensors i Actuadors: Principis Físics 1.1 Interacció entre la radiació i el silici
1.2 L'efecte piezoresistiu
1.3 La piezoelectricitat
1.4 Mecànica de diafragmes i poltres
1.5 Efectes termoelèctrics
1.6 Efecte Hall i magnetoresistivitat
1.6 Efectes químics en materials d'estat sòlid
2. Actuadors i microsistemes 2.1 Microdiafragmes i micropoltres
2.2 Microvàlvules i microbombes
2.3 Micromiralls
3. Mètodes avançats de processament del senyal per a sistemes multisensor 3.1 El problema de l'elevada dimensionalitat en sistemes multisensor
3.2 Tècniques de selecció de variables.
3.3 Mètodes avançats de processament del senyal: Tècniques estadístiques i neurals.

Planificació
Metodologies  ::  Proves
  Competències (*) Hores a classe Hores fora de classe (**) Hores totals
Activitats Introductòries
1 0 1
 
Sessió Magistral
30 30 60
Presentacions / exposicions
22 44 66
Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària
16 32 48
 
Atenció personalitzada
5 0 5
 
Proves objectives de preguntes curtes
4 16 20
 
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat

Metodologies
Metodologies
  Descripció
Activitats Introductòries Descripció dels continguts, de la organització del curs i dels mètodes d'avaluació.
Sessió Magistral Consisteix en l'esposició per part del professor del continguts teòrics de l'assignatura. Es farà mitjançant ordinador i canó vídeo.
Presentacions / exposicions Desenvolupament per part de l'alumne de determinats aspectes de l'assignatura mitjançant la realització de treballs pràctics o teòrics amb exposició posterior davant de la classe.
Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària Resolució per part dels alumnes, ja sigui individualment o en grups, de petits exercicis. Es comentaran les solucions.

Atenció personalitzada
 
Presentacions / exposicions
Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària
Atenció personalitzada
Proves objectives de preguntes curtes
Descripció
Es tracta de realitzar atenció personalitzada durant les hores de tutories. Aquesta atenció va adreçada a resoldre dubtes o guiar el treball de l'alumne en les pràctiques de laboratori, el treball d'intensificació i la preparació de l'exposició del treball. Addicionalment, l'atenció personlitzada s'adreça a resoldre dubtes relacionats amb les classes magistrals o qualsevol altre aspecte que l'alumne cregui convenient.

Avaluació
  Descripció Pes
Presentacions / exposicions Exposició per part dels alumnes de temes afins o d'intensificacions 20%
Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària Resolució de problemes proposats 10%
Proves objectives de preguntes curtes 4 Proves parcials de pes igual 70%
 
Altres comentaris i segona convocatòria

Fonts d'informació

Bàsica C.M. Bishop, Neural Networks for Pattern Recognition, Oxford, 1995
S. Middelhoek, S.A. Audet, Silicon Sensors, Academic Press, 1989

Complementària Diversos, Articles de recerca, ,

Recomanacions