DADES IDENTIFICATIVES 2007_08
Assignatura TECNOLOGIA DE MICROSISTEMES Codi 175101207
Ensenyament
Enginyeria Electrònica (2006)
Cicle 2on
Descriptors Crèd. Tipus Curs Període
4 Optativa Únic anual
Llengua d'impartició
Anglès
Castellà
Català
Departament Eng. Electrònica, Elèctrica i Automàtica
Coordinador/a
VILANOVA SALAS, JAVIER
Adreça electrònica xavier.vilanova@urv.cat
Professors/es
VILANOVA SALAS, JAVIER
Web
Descripció general i informació rellevant

Competències
Tipus A Codi Competències Específiques
  Professionalitzador
  Recerca
  AR1 Conèixer els processos de disseny, fabricació i verificació de sistemes microelectrònics en general i sistemes MEMS o amb sensors en particular.
  AR4 Avaluar diferents alternatives d'implementació d'un sistema MEMS i escollir-ne la més apropiada en funció de les especificacions del problema.
  AR6 Dissenyar i implementar microsistemes que compleixin unes especificacions prefixades.
Tipus B Codi Competències Transversals
  Comú
  BC4 Resoldre problemes de manera efectiva
  BC11 Treballar en equip i gestionar equips
  BC12 Asertivitat. Comunicar de manera clara i sense ambigüitats tant a audiències expertes com no expertes
  BC14 Planificació i organització
Tipus C Codi Competències Nuclears
  Comú
  CC1 Domini de l’expressió i la comprensió del/s idioma/es estrangers per al desenvolupament professional derivat del curs del postgrau.
  CC2 Ús de les eines específiques de TIC per al desenvolupament professional derivat del curs de postgrau.
  CC4 Desenvolupament d’habilitats informacionals

Objectius d'aprenentatge
Objectius Competències
Coneixer els processos tecnològics associats al desenvolupament de MEMS AR1
AR4
Saber combinar diferents processos tecnològics per aconseguir estructures definides AR1
AR4
AR6
BC4
BC11
BC14
Saber descriure un procés tecnològic BC12
BC14
CC1
CC2
CC4

Continguts
Tema Subtema
Presentació
Introducció Definició de microsistema. Importancia de la tecnologies previes. definició, estructura i clasificació de les sales blanques
Materials per a microsistemes Materials com a soport mecànic
Materials per aplicacions de sensors
Materials per a aplicacions d'actuadors
Materials auxiliars en el desenvolupament del microsistema
Tecnologia microelectrònica Obtenció de monocristalls (oblies)
Processos d'oxidació
Processos de dopat
Processos de dipòsit: Procesos físics (PVD) i procesos químics (CVD)
Procés fotolitogràfic
Els procés de gravat: Gravat sec i gravat humit
Tecnologia híbrida El procés d'estampat
Tipus de tintes
El procés d'assecat
El procés de Firing
Processos de micromecanitzat Micromecanitzat de superfície
Micromecanitzat de "bulk"
Procés LIGA Definició i aplicacions del procés
Obtenció de les màscares
Pasos tecnològics
Processo alternatius de microestructuració
Encapsulat i interconnexió "Wirebonding"
Tab-Bonding
Flip-Chip
Wafer Bonding

Planificació
Metodologies  ::  Proves
  Competències (*) Hores a classe Hores fora de classe (**) Hores totals
Activitats Introductòries
1 0 1
 
Sessió Magistral
25 50 75
Treballs
4 17 21
 
Atenció personalitzada
1 0 1
 
Proves objectives de preguntes curtes
2 0 2
 
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat

Metodologies
Metodologies
  Descripció
Activitats Introductòries Es presentaran els continguts de l'assignatura, ols objectius i la metodologia a emprar, així com el sistema d'avaluació
Sessió Magistral Es presentaran els continguts bàsics de l'assignatura
Treballs Es propossarà a un grup d'alumnes que defineixin un procés per aconseguir una estructura fixada.
Hauran d'exposar a classe la descripció del procés definit, així com elaborar un informe del mateix

Atenció personalitzada
 
Treballs
Atenció personalitzada
Descripció
Els alumnes podran resoldre els dubtes que esl apareguin sobre els temes expossats en les classes magistrals, així com en la elaboració del treball concertant una cita al despatx o be per mitjà del correu electrònic si es possible.

Avaluació
  Descripció Pes
Treballs Es valorarà la consistència tècnica del proceés presentat, així com la claretat i correcció lingüística de l'informe i la presentació.
La nota serà comuna per a tots els membres del grup.
40 %
Proves objectives de preguntes curtes Durant el quadrimestre es realitzaran dues proves de preguntes curtes sobre els continguts presentats a les sessions magistrals 2 x 30 %
 
Altres comentaris i segona convocatòria

Fonts d'informació

Bàsica W. Menz, J. Mohr, O. Paul, Microsystem Technology, Wiley-VCH, 2001
Hsu, Tai-Ran, MEMS and Microsystems, McGraw-Hill, 2002

Complementària H.J. Levinson, Principles of Lithography, SPIE press, 2005
M. Köhler, Etching in Microsystem Technology, Wiley-VCH, 1999

Recomanacions


 
Altres comentaris
Es recamana haver cursat Materials Electrònics, Sensors i Actuadors i Física de Semiconductors