|
Tipus A
|
Codi |
Competències Específiques |
| |
Professionalitzador |
| |
Recerca |
|
Tipus B
|
Codi |
Competències Transversals |
| |
Comú |
|
Tipus C
|
Codi |
Competències Nuclears |
| |
Comú |
| Objectius |
Competències |
| Conèixer la relació entre l’estructura cristal.lina i la simetria amb les propietats físiques dels materials.
Conèixer les principals aplicacions de les tècniques de difracció de Raigs X.
Aplicar la difracció de raigs-X als cristals, i els materials nanoestructurats.
Conèixer com l’estructura cristal.lina influeix en les propietats dels cristals, i els materials nanoestructurats.
|
|
|
|
| Tema |
Subtema |
| 1. Introduction to the crystallography. Basic concepts. |
1-Introduction to the Crystallography. Symbols and terms. Vectors, coefficients and coordinates. Space groups of symmetry |
| 2. X-ray diffraction methods. |
2.1 The intensities of X-ray diffracted beams: the structure factor equation and its applications.
2.2 Some applications of X-ray powder (polycrystalline) diffraction techniques.
Identification of unknown phases.
Accurate lattice parameter measurements.
Crystalline structures refinement from X-ray powder diffraction.
2.3 X-ray diffraction with High Temperature camera.
Polimorfisme and phase transition with temperature.
X-ray dilatometry. Thermal tensor of the anisotropic materials.
2.4 Tridimensional X-ray diffraction. Euler goniometer with Schulz geometry. Textur goniometer.
Thin films characterization.
Orientation of crystalline materials for cutting.
Textur characterization of polycrystalline materials. |
| 3. Relation between crystalline structure and morphology. |
3.1Crystals, nanocrystals and nanostructured materials.
Nucleation and crystal growth.
Size and shape versus growth conditions.
Relation between crystalline structure and morphology.
3.2 Curie principle and Wulff theorem for the equilibrium form and crystal growth form.
Models and exemples. |
| 4.-Anisotropy and physical properties of materials. |
4.1 Anisotropy and physical properties of materials.
Physical Properties as Tensors.
Neumann’s Principle.
The value of a physical property in a given direction.
Curie’s principle.
|
| Metodologies :: Proves |
| |
Competències |
(*) Hores a classe |
Hores fora de classe |
(**) Hores totals |
| Activitats Introductòries |
|
1 |
0 |
1 |
| |
| Sessió Magistral |
|
30 |
0 |
30 |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
|
35 |
0 |
35 |
| |
| Atenció personalitzada |
|
2 |
0 |
2 |
| |
| Proves pràctiques |
|
2 |
6 |
8 |
| |
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat |
Metodologies
| |
Descripció |
| Activitats Introductòries |
Presentació de l’assignatura. |
| Sessió Magistral |
Exposició teòrica dels continguts de l’assignatura. |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
Realització d’un treball pràctic. |
|
|
|
Descripció |
| Consulta de dubtes relacionats amb la matèria. |
|
| |
Descripció |
Pes |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària i lliurar un resum |
80 |
| Proves pràctiques |
Realització d’un exercici pràctic i individual. |
20 |
| |
|
Altres comentaris i segona convocatòria |
|
|
| Bàsica |
|
E. Hartmann. An introduction to Crystal Physics. Pu. International Union of Crystallography. Cardiff, 1984.
L.A. Shuvalov. Modern CrystallographyIV. Physical properties of crystals . Springer Verlag, 1988, pp.1-46
J.F. Nye. Physical properties of Crystals. Their representation by tensors and matrices. Oxford University Press, 1985, pp.3-48, pp.93-109.
B.D. Cullity. Elements of X-Ray Diffraction. Addison-Wesley Pu. Co., 1978.
R.A. Schwarzer. Texture and anisotropy of polycrystals. Trans. Tech. Pu., Germany, 1997.
A. Putnis. Introduction to the mineral Science. Cambridge University Press, 1992, pp.1-120.
R.A. Young.The Rietveld Method. Oxford University Press, 1995.
D.L.Bish and J.E.Post, Modern Powder Diffraction, Reviews in Mineralogy, V.20. Minera. Society of America. Washington, 1989.
Z.L Wang (edited by), Characterization of Nanophase materials, Wyley-VCH , Weinheim, 2000,pp.1-35; 315-350.
J.N. DiNardo. Nanoscale characterization of surfaces and interfaces. Wiley-VCH, Weinheim,1994.
P.J.Duke. Sincroton Radiation production and properties. Oxford University Press, 2000.
|
| Complementària |
|
|
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent |
|