DADES IDENTIFICATIVES 2011_12
Assignatura (*) INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERITZACIÓ Codi 205151207
Ensenyament
Nanociència i Nanotecnologia (2006)
 Cicle 2n
Descriptors Crèd. Tipus Curs Període Horaris i dates d'examen
2.5 Optativa Únic anual
Modalitat i llengua d'impartició Vegeu grups activitat
Departament Química Analítica i Química Orgànica
Coordinador/a
RIU RUSELL, JORDI
 Adreça electrònica jordi.riu@urv.cat
Professors/es
RIU RUSELL, JORDI
Web
Descripció general i informació rellevant This course provides a critical and systematic understanding of the current techniques suited to the characterisation of the physical and chemical properties of nanostructures. This course covers the state-of-the-art of microscopy and spectroscopy, providing the basis to understand how best to use a particular technique and the situations in which it is best applied.

Competències
Tipus A Codi Competències Específiques
  Recerca
  AR27 Conèixer l'estat actual de la tècnica, les capacitats, limitacions i aplicacions de les tècniques actuals emprades en a la caracterització de nanoestructures.
  AR28 Identificar les tècniques de caracterització que es poden utilitzar per a resoldre un problema específic.
  AR29 Interpretar la informació obtinguda de les tècniques de caracterització.
  AR30 Capacitat d'usar SEM, TEM, AFM i microscopi confocal, des d'un punt de vista pràctic.
Tipus B Codi Competències Transversals
  Recerca
  BR2 Treballar de manera autònoma amb iniciativa.
  BR8 Capacity to learn.
  BR10 Critical abilities: analysis and syntesis.
Tipus C Codi Competències Nuclears
  Comú
  Recerca
  CR1 Comunicar-se de manera efectiva en la pràctica professional i com a ciutadà.

Objectius d'aprenentatge
Objectius Competències
State-of-the-art,capabilities, limitations and applications of the current techniques used to characterise nanostructures. AR27
 BR2
BR8
BR10
 CR1
Identification of the characterisation techniques that can be used to solve a specific problem. AR28
 BR2
BR8
BR10
 CR1
Interpretation of the information obtained from the characterisation techniques. AR29
 BR2
BR8
BR10
 CR1
Capability to use SEM, TEM, AFM and Confocal Microscope from a practical point of view. AR30
 BR2
BR8
BR10
 CR1

Continguts
Tema Subtema
1. Introduction. Optical microscopy. Confocal microscopy. Applications and future perspectives.
2. Scanning probe microscopy (SPM) and spectroscopy. Principle of operation. Scanning Tunneling microscopy (STM). Basic principles. Surface structure determination by STM. Scanning Tunneling spectroscopies. STM-based atomic manipulations. Recent developments and applications.
3. Atomic Force Microscope (AFM). Basic principles. Contact, Non-contact and Tapping AFM modes. Measuring local properties with AFM. Other scanning probe techniques. Applications to nanoscale materials.
4. Electron microscopy. General aspects of electron optics. Electron beam generation. Electron beam interactions. Scanning Electron Microscopy (SEM). Environmental Scanning Eletron Microscopy (ESEM). Transmission Electron Microscopy (TEM). Applications.
5. Electron Microscopy. Transmission Electron Microscopy (TEM). Applications.
6. Diffraction techniques to determine crystal structures. X-Ray Diffraction (XRD)

Planificació
Metodologies  ::  Proves
  Competències (*) Hores a classe Hores fora de classe (**) Hores totals
Activitats Introductòries
1 0 1
 
Sessió Magistral
12 12 24
Presentacions / exposicions
1 7 8
Pràctiques a laboratoris
10 0 10
Treballs
6 6 12
 
Atenció personalitzada
10 0 10
 
Proves de desenvolupament
2 0 2
 
(*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor.
(**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat

Metodologies
Metodologies
  Descripció
Activitats Introductòries One introductory lecture providing a classification of the characterisation techniques and some applications in nanotechnology.
Sessió Magistral Lectures covering the basic principles, modes of operation, applications and fundamental limitations of the characterisation techniques.
Presentacions / exposicions The students will be divided in groups and each group will perform an oral exposition of one of the subjects given during the course.
Pràctiques a laboratoris Practical sessions in the facilities of the "Servei de Recursos Científics" of the Rovira i Virgili University.
Treballs Individual and group assignements.

Atenció personalitzada
 
Atenció personalitzada
Descripció
Meeting with the students, either individually or in groups, in order to improve the students performance.

Avaluació
  Descripció Pes
Presentacions / exposicions Oral exposition by groups 25
Treballs Individual and group assignments. 25
Proves de desenvolupament Final individual exam 30
Altres

Assistance and individual participation during the classes and practical sessions

 20
 
Altres comentaris i segona convocatòria

A minimum of 40% in each partis required in order to pass the subject.


Fonts d'informació

Bàsica YAO, N., WANG Z.L., Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Kluver Academic Publishers, 2005
KELSALL, R., HAMLEY, I., GEOGHEGAN M., Nanoscale Science and Technology, Wiley, 2005
BIRDI, K.S., Scanning probe microscopes: applications in science and technology, CRC Press, 2003
GOLDSTEIN, J.I., Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis, Kluver Academic, Plenum Press, 2003

Complementària DI VENTRA, M., EVOY S., HEFLIN J.R., Introduction to Nanoscale Science and Nanotechnology, Kluver Academic Publishers, 2004
BHARAT, B., Springer Handbook of Nanotechnology, Springer, 2003
WILLIAMS, B., CARTER, C.B., Transmission electron microscopy. A text book for material science. Springer Handbook of Nanotechnology, Plenum Press, 1996
BRIGGS, D., SEAH, M.P., Practical surface analysis: By Auger and X-Ray photoelectron spectroscopy, Wiley, 1990
, Papers about recent trends in characterization techniques for nanostructures, ,

 
Recomanacions
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent