DADES IDENTIFICATIVES | 2008_09 |
Assignatura | INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERITZACIÓ | Codi | 205151207 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
2.5 | Optativa | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Bàsica |
YAO, N., WANG Z.L., Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Kluver Academic Publishers, 2005 KELSALL, R., HAMLEY, I., GEOGHEGAN M., Nanoscale Science and Technology, Wiley, 2005 BIRDI, K.S., Scanning probe microscopes: applications in science and technology, CRC Press, 2003 GOLDSTEIN, J.I., Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis, Kluver Academic, Plenum Press, 2003 |
Complementària |
DI VENTRA, M., EVOY S., HEFLIN J.R., Introduction to Nanoscale Science and Nanotechnology, Kluver Academic Publishers, 2004 BHARAT, B., Springer Handbook of Nanotechnology, Springer, 2003 WILLIAMS, B., CARTER, C.B., Transmission electron microscopy. A text book for material science. Springer Handbook of Nanotechnology, Plenum Press, 1996 BRIGGS, D., SEAH, M.P., Practical surface analysis: By Auger and X-Ray photoelectron spectroscopy, Wiley, 1990 , Papers about recent trends in characterization techniques for nanostructures, , |
|