| Descripció general i informació rellevant |
Objectius:
1.- Conèixer els fonaments de la microscòpia electrònica i la instrumentació relacionada.
2.- Valorar adequadament els límits de resolució espaial i de dispersió en energia en el context global de les tècniques de caracterització.
3.- Conèixer els diferents mètodes de preparació de mostres per valorar aplicabilitat en funció de la problemàtica específica i els possibles riscos de deteriorament o modificació de la mostra.
4.- Conèixer el panorama més actual sobre l'aplicació de les eines de microscòpia electrònica per a la caracterització morfològica i analítica de nanoestructures.
5.- Conèixer els fòrums internacionals de més prestigi per a la difusió dels avenços en microscòpia electrònica.
6.- Conèixer les instal•lacions de l'entorn proper i grans centres internacionals.
Continguts:
Tema 1. Instrumentació per Microscòpia Electrònica. Avenços instrumentals: filaments d’emissió de camp, correctors d’aberració, espectròmetres i monocromadors, filtres d’energia.
Mètodes avançats de preparació de mostres: Preparació de mostres biològiques, FIB.
Tema 2. Microscòpia Electrònica d’Escombrat. Crio-microscòpia. catodoluminiscència (CL), currents induïdes (EBIC),
Anàlisi de patrons d’electrons retrodisperstats (EBSP).
Microscòpia electrònica ambiental (ESEM).
Modes avançats d’observació: Tomografia SEM
Microscòpia de rastreig d’alta resolució FEG-SEM.
Tema 3. Microscòpia Electrònica de Transmissió. Difracció d’un cristall. Indexació de diagrames de difracció. Doble difracció. Patrons de Kikuchi. Formació e interpretació d’imatges amb contrast de difracció. Difracció per feix convergent (CBED, LACBED)
Precessió del feix i cristal•lografia electrònica. Nanodifracció.
Contrast de fase. Principis de formació de les imatges d’alta resolució (HRTEM). Funció de transferència de contrast. Resolució sub-Ångstrom.
Mètodes de simulació d’imatges. Reconstrucció d’amplitud i fase de l’ona emergent. Tractament digital de les imatges d’alta resolució.
Tema 4. Microscòpia electrònica analítica (AEM). Espectroscòpia de Raig-X. Detectors per dispersió d’energia (EDS) i longitud d’ona (WDS). Anàlisi quantitatiu de raig-X (XEDS).
Espectroscòpia de pèrdua d’energia dels electrons (EELS). Estructura fina del front de absorció (ELNES, EXELFS). Formació d’imatges filtrades en energia (EFTEM). Aplicació a materials nanoestructurats.
Tema 5. Modes avançats d’observació i anàlisi. Tomografia electrònica: Formació d’imatge i mètodes de reconstrucció 3D. Crio-tomografia. Aplicacions en ciència de materials i ciències de la vida.
Mode escombrat-transmissió (STEM) i microscòpia en camp fosc amb detector anular d’angle ample (HAADF – Z-Contrast). Microscòpia analítica amb resolució atòmica. Aplicacions a materials nanoestructurats.
Altres microscòpies: Holografia electrònica. Microscòpia Lorentz, microscòpia de reflexió d’electrons,...
|
