DADES IDENTIFICATIVES | 2009_10 |
Assignatura | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Codi | 175101221 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
3 | Optativa | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Objectius | Competències | ||
Conèixer la relació entre l’estructura cristal.lina i la simetria amb les propietats físiques dels materials. Conèixer les principals aplicacions de les tècniques de difracció de Raigs X. Aplicar la difracció de raigs-X als cristals, i els materials nanoestructurats. Conèixer com l’estructura cristal.lina influeix en les propietats dels cristals, i els materials nanoestructurats. |