II. MICROSCOPIA D'EFECTE TÚNEL (STM) |
Efecte túnel. El Microscopi d'Efecte Túnel. Modes d'obtenció d'imatges: corrent constant i alçada constant. Interpretació de les imatges de STM. Límits de resolució i artefactes. Modes de caracterització espectroscòpics: espectroscòpia corrent-tensió. |
II. MICROSCOPIA DE FORCES ATÒMIQUES (AFM) |
Forces atòmiques. El Microscopi de Forces Atòmiques. Principals modes d'obtenció d'imatges: contacte, dinàmic, no-contacte. Interpretació de les imatges d'AFM: imtages topogràfiques, de deflexió, de fricció, de fase, etc. Límits de resolució i artefactes. Modes de caracterització amb AFM: forces electrostàtiques i magnètiques, potencial de superfície, conductivitat elèctrica, capacitat elèctrica, etc. Principals modes de caracterització espectroscòpics: espectroscòpia de forces, espectroscòpia corrent-tensió. |
III. MICROSCOPIA ÓPTICA DE CAMP PROPER (SNOM) |
Òptica de camp proper. El Microscopi Òptic de Camp Proper. Interpretació de les imatges de SNOM. Límits de resolució i artefactes. |