DADES IDENTIFICATIVES | 2013_14 |
Assignatura | INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERIZACIÓ | Codi | 20705208 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
3 | Optativa | Únic anual |
Competències | Resultats d'aprenentage | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Bàsica |
YAO, N., WANG Z.L., Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Última edició disponible, Kluver Academic Publishers KELSALL, R., HAMLEY, I., GEOGHEGAN M., Nanoscale Science and Technology, Última edició disponible, Wiley |
Complementària |
DI VENTRA, M., EVOY S., HEFLIN J.R., Introduction to Nanoscale Science and Nanotechnology, Última edició disponible, Kluver Academic Publishers BHUSHAN, B, Handbook of Nanotechnology, Última edició disponible, Springer WILLIAMS, B., CARTER, C.B., Transmission electron microscopy. A text book for material science., Última edició disponible, Plenum Press BRIGGS, D., SEAH, M.P., Practical surface analysis: By Auger and X-Ray photoelectron spectroscopy, Última edició disponible, Wiley BIRDI, K.S., Scanning probe microscopes: applications in science and technology, Última edició disponible , CRC Press GOLDSTEIN, J.I., Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis, Última edició disponible , Kluver Academic, Plenum Press SAMORI, P., Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures, Última edició disponible , Weinheim: Wiley-VCH |