| Guia docent Escola Tècnica Superior d`Enginyeria |
català |
| Enginyeria Electrònica (2006) |
 Assignatures |
| CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS |
 
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| DADES IDENTIFICATIVES | 2008_09 | |||||||||||||||||
| Assignatura | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Codi | 175101221 | |||||||||||||||
| Ensenyament |
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Cicle | 2on | |||||||||||||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||||||||||||
| 3 | Optativa | Únic anual |
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| Modalitat i llengua d'impartició | ||||||||||||||||||
| Prerequisits | ||||||||||||||||||
| Departament | Química Física i Inorgànica |
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| Coordinador/a | Adreça electrònica | |||||||||||||||||
| Professors/es | |
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| Web | ||||||||||||||||||
| Descripció general i informació rellevant | ||||||||||||||||||
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