Se pretende alcanzar los conocimientos básicos en Cristalografía
y difracción de rayos-X. Así como en las principales técnicas de
caracterización de sólidos cristalinos.
Aspectos básicos del estado cristalino, y de la diffracció de raigs- X.
La red directa o sistema directa. La red reciproca. Nomenclatura.
Punto, dirección, plano en Cristalografía.
Cálculo cristalográfica. Simetría Puntual. Simetría Espacial.
Caracterización por difracción de RX. Técnicas de difracción de RX.
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