| Descripció general i informació rellevant |
Objectius:
El present curs té per objectiu proporcionar una descripció de les microscopies de proximitat (microscopia de forces atòmiques, microscopia túnel i microsocopia òptica de camp proper) i la seva utilització en la caracterització i manipulació de superfícies a la nanoescala.
Continguts:
I. INTRODUCCIÓ A LES MICROSCOPIES DE PROXIMITAT. Limitacions de la microscopia òptica. Desenvolupament històric de les microscopies de proximitat. Tipus de microscopies de proximitat. Condicions ambientals pel treball amb microscopies de proximitat. Introducció als piezoelèctrics. Escaneig. Realimentació.
II. MICROSCOPIA D'EFECTE TÚNEL (STM). Efecte túnel. El Microscopi d'Efecte Túnel. Modes d'obtenció d'imatges: corrent constant i alçada constant. Interpretació de les imatges de STM. Límits de resolució i artefactes. Modes de caracterització espectroscòpics: espectroscòpia corrent-tensió.
III. MICROSCOPIA DE FORCES ATÒMIQUES (AFM). Forces atòmiques. El Microscopi de Forces Atòmiques. Principals modes d'obtenció d'imatges: contacte, dinàmic, no-contacte. Interpretació de les imatges d'AFM: imtages topogràfiques, de deflexió, de fricció, de fase, etc. Límits de resolució i artefactes. Modes de caracterització amb AFM: forces electrostàtiques i magnètiques, potencial de superfície, conductivitat elèctrica, capacitat elèctrica, etc. Principals modes de caracterització espectroscòpics: espectroscòpia de forces, espectroscòpia corrent-tensió.
IV. MICROSCOPIA ÓPTICA DE CAMP PROPER (SNOM). Òptica de camp proper. El Microscopi Òptic de Camp Proper. Interpretació de les imatges de SNOM. Límits de resolució i artefactes.
V. NANOMANIPULACIÓ. Nanoposicionament i nanomanipulació. Nanomanipulació d'àtoms mitjançant STM. Nanomanipulació de nanopartícules mitjançant AFM. Interfície humana per a la nanomanipulació: l'haptic. Estacions de nanomanipulació. Entorns virtuals per a la nanomanipulació. |
Assignatures
